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2007.09 Silicon Wafer结晶缺陷检查装置 《OSF检查装置

   
   

用微分干涉显微镜来观察Silicon Wafer的OSF结晶缺陷,来计数。

 

另外,也可以客制化,提供满足其他需求的检查装置。

   

详情请咨询··· sales@seiwaopt.co.jp

   
   
   
 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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